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搜索:低相位噪聲測(cè)試
- [常見問題]測(cè)量晶振相位噪聲的簡化程序如下2019年02月15日 08:58
- 為滿足市場(chǎng)上對(duì)晶振高的要求,高的性能的要求,以及通信系統(tǒng)對(duì)振動(dòng)環(huán)境下相位噪聲提出的更為嚴(yán)格的要求,提出了一種低相噪,抗振動(dòng)溫補(bǔ)晶振的設(shè)計(jì)方法.分析了影響溫補(bǔ)晶振靜態(tài)相位噪聲的因素,通過ADS仿真對(duì)電路參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化,實(shí)現(xiàn)了低的靜態(tài)相位噪聲.介紹了振動(dòng)狀態(tài)下石英晶體振蕩器相位噪聲惡化的原因,應(yīng)用有限元理論方法對(duì)溫補(bǔ)晶振的結(jié)構(gòu)進(jìn)行仿真分析和優(yōu)化,通過提高結(jié)構(gòu)的自諧振頻率來有效降低振動(dòng)條件下的相位噪聲.
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標(biāo)簽:低相位噪聲測(cè)試|石英晶體振蕩器噪聲測(cè)量